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產品列表PRODUCTS LIST
IMLD-B型中空玻璃露點儀說明書
一、設備功能
根據(jù)試驗設備所用的材質不同，我公司生產設計了兩個不同種類的中空玻璃露點儀，分別為IMLD-A（干冰式）中空玻璃露點儀與IMLD-B（半導體式）中空玻璃露點儀。
中空玻璃露點儀是我公司根據(jù)GB/T11944—2012《中空玻璃》的規(guī)定條件自主研發(fā)與生產的試驗設備。放置露點儀后，玻璃表面冷卻，當達到一定溫度以后，內部水汽在冷點部位結露，該溫度為露點。用來測量中空玻璃的露點，檢測中空玻璃試樣內表面在標準規(guī)定條件和方法情況下是否結露。
二、設備特點
1、試驗箱體外殼采用噴塑方法，也就是我們經常說的靜電粉末噴涂法，使得機箱外觀質量優(yōu)異，機械強度強，防腐蝕、不生銹。
2、采用半導體三級制冷的技術，制冷效果，數(shù)據(jù)穩(wěn)定。
3、利用數(shù)顯表對所需的試驗溫度進行控制，并且可以實時的顯示測溫點的溫度值。
4、試驗的操作過程方便，試驗設備不僅可以在試驗室內使用，而且可以在現(xiàn)場進行檢測。
5、不需要使用容易揮發(fā)的干冰做試驗，成品更加的低廉。
6、設備中的探頭和制冷機組可實現(xiàn)*分離，方便實用且不受試件方向限制。
7、采用pt100溫度探頭，測量精度高，數(shù)據(jù)準確。
8、液體循環(huán)使用耐壓耐腐蝕的橡膠管，增加了露點儀的使用壽命。
9、溫度值控制采用微機溫控PID調節(jié)技術，控溫精度高，溫度穩(wěn)定性高。
10、安全性能高，在設計的過程中電路與制冷循環(huán)的獨立化，使得設備電氣部分不受液體循環(huán)的影響，從而保證了電器部分采集數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。
11、集成了電源、冷卻、循環(huán)和控制系統(tǒng)，實現(xiàn)全過程自動控制。
12、在試驗過程中，探頭的工作面與試件接觸，探頭的工作面可以為任意方向。
13、試驗過程可以根據(jù)詳細的產品說明書，按步驟執(zhí)行。整個試驗操作簡單易學。
二章產品詳細技術方案
一、概述
測量試樣的露點，一般是將測量器件放置在試樣的表面，將溫度冷卻到等于或低于-60℃并保持此溫度，達到設定的時間以后，觀察試樣的結露情況。半導體中空玻璃露點儀是利用制冷機組對循環(huán)液體進行降溫，進而使測量點的溫度下降的過程。而利用溫控表來控制與顯示試驗溫度點，增加了試驗設備的智能化。
二、適用標準
GB/T11944-2012《中空玻璃》
GB/T7020-1986《中空玻璃測試方法》
BS5713：1979《中空玻璃技術要求》
ASTME546-88《中空玻璃結霜點測試方法》
JISR3209-1998《中空玻璃》
三、性能指標
1、控制箱尺寸：470mm×550mm×700mm；
2、測量探頭工作溫度：-60℃～-40℃；
3、數(shù)顯溫度計測量范圍：-65℃~+50℃（注：測量范圍可調）；
4、溫度分辨率：1℃；
5、試驗環(huán)境溫度：23℃±2℃；
6、試驗環(huán)境相對濕度：30%RH~75%RH；
7、工作電壓：AC220V。
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